beinhaltet die doppelte Vermessung aller Messpunkte entlang eines gravimetrischen oder Eigenpotential-Profils oder Arrays, wobei die jeweiligen Bezugs- oder Basispunkte mehrfach vermessen werden. Diese Methode ist gegenüber der Einschleifenmethode, bei der alle Punkte ausser den Basispunkten nur einmal vermessen werden, die genauere, aber auch erheblich aufwendigere.