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Transmissions-Elektronen-Mikroskop

 
     
  TEM, elektronenoptisches Instrument zur hochvergrössernden Materialuntersuchung. Von einer Glühkathode ausgesendete Elektronen, die in der Mikroskopsäule durch elektromagnetische Felder zu einem Elektronenstrahl gebündelt werden, durchstrahlen sehr kleine Objekte (Zellen, Bakterien, Kristallite) oder Ultradünnschnitte in Abhängigkeit von deren Materialdichte und Dicke oder werden absorbiert oder gestreut. Die das Objekt durchdringenden Elektronen werden von einem Fluoreszenzschirm oder einer photographischen Platte unter dem Präparat aufgefangen und ergeben ein zweidimensionales (Schatten-)Bild der unterschiedlichen Elektronendichten des Präparats (im Gegensatz zum Raster-Elektronenmikroskop). Das TEM hat eine Auflösung zwischen 0,2 und 1,0 nm und ermöglicht bis zu 1.000.000fache Vergrösserungen. Elektronenmikroskop.  
 

 

 

 
 
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Weitere Begriffe : Orthogeosynklinale -Nd-Wert Deformationsfront

 

 
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